光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀是商用CMOS圖像傳感器測試儀，可以提供全面的CMOS圖像傳感器參數(shù)表征。被測設(shè)備可以是幾種類型的CMOS圖像傳感器模塊。檢驗程序符合EMVA 1288標準。因此，可用于進行晶圓級光學檢測、加工參數(shù)控制、微透鏡設(shè)計、微透鏡驗證。SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的高度準直光束（<1°）可以克服傳統(tǒng)光學系統(tǒng)（如積分球系統(tǒng)）無法解決的新制造工藝的檢測困難。

詳情介紹

特色

*無損光學檢測。

*高度準直梁角 /高準直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,9<3度 (不同型號)

*高均勻光束點：≥ 99%。

*光的不穩(wěn)定性≤1%。

*高動態(tài)范圍測試能力：80dB~140dB（不同型號）。

*可以測試CMOS圖像傳感器參數(shù)。量子效率、光譜響應、系統(tǒng)增益、靈敏度、動態(tài)范圍、暗電流/噪聲、信噪比、飽和容量、線性誤差（LE）、DCNU（暗電流不均勻性）、PRNU（光響應不均勻性）、CRA。

*全光譜波長范圍:300nm-1100nm或350nm~1000nm（PTC）。

*波長可擴展至1700納米以上。

*DUT 封裝：CIS 模塊，PCB 板級，CIS 攝像頭，有/無微透鏡。

*SG-A和DUT之間的 “直接 “或 “握手 “通信協(xié)議。

*定制的測試夾具和平臺（手動或自動，多6軸）。

*功能完整的分析軟件ARGUS®。

*應用：指紋識別（CIS+鏡頭，CIS+準直器，TFT陣列傳感器）CIS的微透鏡設(shè)計，晶圓級光學檢測，CIS DSP芯片算法開發(fā)，Si TFT傳感器面板，飛行時間相機傳感器，接近傳感器（量子效率，靈敏度，線性度，SNR等），d-ToF傳感器，i-ToF傳感器，多光譜傳感器，環(huán)境光傳感器（ALS），指紋顯示（FoD）傳感器。

規(guī)格

光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的功能很好，因此相關(guān)的規(guī)格和配件也很齊全。更多細節(jié)可再了解。

以下是主要的能力規(guī)格:

– 全光譜的波長范圍：300-1100nm或350-1000nm（PTC）

– 波長范圍可以擴展到1700 nm或更高

– 單一波長源：470nm、530nm、630nm、940nm（±5nm），或自定義

– 動態(tài)范圍：80dB、100dB或140dB

– 測試夾具：DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制

– 平臺：非、手動3軸，或6軸（手動+自動）平臺（可定制）

應用范圍

光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀可用于：

*指紋識別（CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT-陣列傳感器)

*CIS的微透鏡設(shè)計，晶圓級光學檢查

*CIS DSP 芯片的算法開發(fā)

*Si TFT 傳感器面板

*飛行時間相機傳感器

*近距離感應器 (量子效率、靈敏度、線性度、SNR等。)

*d-ToF傳感器、i-ToF傳感器

*多光譜傳感器

*環(huán)境光傳感器 (ALS)

*指紋顯示（FoD）傳感器